TC-PCT-300加速老化试验箱

主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。
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TC-PCT-300加速老化试验箱


配件原装进口,品质稳定更有保障
产品用途
广泛应用于线路板,多层线路板力,IC力,LCD力,磁铁等产品之密封性能的检测力,测试其制品的耐压性力,气密性。
TC-PCT-300加速老化试验箱

TC-PCT-300加速老化试验箱

型号

TC-PCT-300 TC-PCT-350 TC-PCT-400

控制器

采用 7″TFT真彩LCD触摸屏

分辨率

温度:0.1压力:指针式0.1

控制稳定度

温度:±0.5℃,湿度:100%

内箱材质

SUS316#不锈钢

外箱材质

高级钢板烤漆或不锈钢(依客户选择)
尺寸(cm)

内箱

Φ30×D50 Φ35×D50 Φ40×D50

外箱

W90×H100×D160 W95×H100×D165 W100×H100×D165

温度范围

110℃~132℃

湿度范围

100%RH饱和蒸气

压力范围

表压力+0.5~2.5kg/cm2

加压时间

大约45分钟

循环方式

水蒸气自然对流循环

 

TC-PCT-300加速老化试验箱

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